Cегодня: 20 апреля 2024 RU UA EN
О сети Контакты
Стать участником Украинской интегрированной системы трансфера технологий Как разместить запрос/предложение
Технологии

Лазерный дифференциально-фазовый сканирующий микроскоп-профилометр

Идентификационный номер: П24 Предложения
Опубликовано: 12 сентября 2018 Дата окончания: 10 января 2023
Страна: Україна

Лазерний дифференциально-фазовий сканирующий микроскоп-профилометр ЛДФСМП предназначен для исследования объектов с наногеометрической шероховатостью поверхностей, непрозрачных объектов в конфигурации «на отражение» и оптически прозрачных объектов в конфигурации «на просвет» различных нанотехнологических отраслей нанометрологии, прецизионного машиностроения, микроэлектроники, медицины, микробиологии, нанотрибологии, физики, химии и др.


Ключевые слова:

Микроскоп, профилограф, профилометр, бесконтактный, сканирование, дифференциально-фазовый метод


Описание предложения

Опытный образец дифференциально-фазового лазерного сканирующего микроскопа-профилометра ЛДФСМП является передовым изделием в области нанометрии, который имеет такие основные конкурентные преимущества:
• Высокая чувствительность по высоте профиля: до 1 нанометра.
• Высокое быстродействие: высокая скорость линейного сканирования в ЛДФСМП за счет двухкоординатнихи акустооптичних дефлекторов-расщепителей - около 50мм / с при сканировании с шагом 1 мкм.
• Большое поле зрения с высоким разрешением в плоскости сканирования.
• Получение изображений в ЛДФСМП получения изображения объекта происходит путем растрового сканирования с использованием быстродействующего двухкоординатные акустооптические дефлектора. Количество точек в одном кадре может достигать 512х512.
• Высокая виброзахищенисть.
• Работа в различных режимах: получение изображений объекта в режиме как амплитудных так и дифференциально-фазовых измерений. Также есть возможность получения фотолюминесцентных изображений при наличии соответствующего оснщення. Прибор способен работать как в режиме "на отражение", так и в режиме "на просвет"

Тип технологии

Конструкція

Сфера применения

Машиностроение; медицина; метрология и стандартизация; подшипниковая промышленность. Прибор может быть использован для исследования шероховатости поверхностей непрозрачных объектов в 3D-конфигурации «на отражение» и оптически прозрачных объектов в конфигурации «на просвет», а также на объектах нанотехнологических отраслей: нанометрологии, прецизионного машиностроения, микроэлектроники, медицины , микробиологии, нанотрибологии, физики, химии и др.

Инновационные аспекты

Инновационные аспекты и преимущества
Прибор не имеет аналогов в сфере реализации акустооптического метода сканирования и дифференциально-фазового метода определения 3 D рельефа.
   Этап разработки: проведены лабораторные испытания, изготовлен опытный образец.
Разработчики эксклюзивное право (exclusive rights) на разработку, владеют секретами производства (know-how)

Текущая стадия: Є результати експериментальних досліджень
Макетний зразок
Статус прав интеллектуальной собственности: Know-how

Условия сотрудничества:

Тип организаций:

Авторы заинтересованы в лицензионном соглашении, технической кооперации, испытании для новых применений. Возможна адаптация к требованиям заказчика

Регионы: Азія
Країни СНД
Північна Америка
Східна Європа
Центральна Європа

Copyright (c) ГП "Укртехинформ" 2017